<ctx:context-object xsi:schemaLocation="info:ofi/fmt:xml:xsd:ctx http://www.openurl.info/registry/docs/info:ofi/fmt:xml:xsd:ctx" timestamp="2021-08-27T17:15:25Z" xmlns:ctx="info:ofi/fmt:xml:xsd:ctx" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XML"><ctx:referent><ctx:identifier>info:oai:pure.iiasa.ac.at:4620</ctx:identifier><ctx:metadata-by-val><ctx:format>info:ofi/fmt:xml:xsd:journal</ctx:format><ctx:metadata><jnl:journal xsi:schemaLocation="info:ofi/fmt:xml:xsd:journal http://www.openurl.info/registry/docs/info:ofi/fmt:xml:xsd:journal" xmlns:jnl="info:ofi/fmt:xml:xsd:journal"><jnl:authors><jnl:author><jnl:aulast>Gutjahr</jnl:aulast><jnl:aufirst>W.</jnl:aufirst><jnl:au>Gutjahr, W.</jnl:au></jnl:author><jnl:author><jnl:aulast>Pflug</jnl:aulast><jnl:aufirst>G.C.</jnl:aufirst><jnl:au>Pflug, G.C.</jnl:au></jnl:author><jnl:author><jnl:aulast>Ruszczynski</jnl:aulast><jnl:aufirst>A.</jnl:aufirst><jnl:au>Ruszczynski, A.</jnl:au></jnl:author></jnl:authors><jnl:issue>2</jnl:issue><jnl:volume>36</jnl:volume><jnl:date>February 1996</jnl:date><jnl:issn>0026-2714</jnl:issn><jnl:atitle>Configurations of series-parallel networks with maximum reliability</jnl:atitle><jnl:title>Microelectronics and Reliability</jnl:title><jnl:pages>247-253</jnl:pages><jnl:genre>article</jnl:genre></jnl:journal></ctx:metadata></ctx:metadata-by-val></ctx:referent></ctx:context-object>